Análise de radioelementos, a níveis de traços, utilizando espectrometria de massa de íons secundários / Analysis of radioelements by levels of traits using mass spectrometry of secundary ions

A espectrometria de massa de íons secundários (SIMS) permite a detecção rápida de elementos estáveis ou radioativos, bem como o cálculo de seu percentual isotópico. Ademais, essa técnica possibilita a localização de radioisótipos, à níveis de traços, em amostras biológicas. Neste trabalho procurou-se estudar a utilização dessa metodologia na detecção de urânio natural à baixa concentração. Estudos sobre a preparação de amostras e limites de detecção foram também realizados.