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1.
Nucleus (La Habana) ; (49): 21-25, ene.-jun. 2011. ilus, graf
Artículo en Español | LILACS | ID: lil-738944

RESUMEN

RESUMEN Se presentan los resultados en la aplicación de la simulación matemática para el estudio de la eficiencia cuántica de un detector de silicio cristalino del tipo microbandas, destinado a imagenología médica y al desarrollo de otras aplicaciones como la autenticación y fechado de obras de arte. Se evaluó el efecto de la geometría fuente-detector, de la energía de los rayos X y del grosor de la zona muerta del detector en la eficiencia cuántica de este dispositivo. Los resultados de la simulación se compararon con el pronóstico teórico y con los datos experimentales disponibles, verificándose una adecuada correspondencia. Se concluyó que la configuración frontal es más eficiente para energías incidentes menores a los 17 keV, y que la configuración de borde es la recomendada para aplicaciones que requieran la detección de energías superiores a este valor. También se determinó que la disminución de la zona muerta del detector conduce a un considerable aumento de la eficiencia para cualquier valor de energía en el intervalo de 5 a 100 keV.


ABSTRACT The paper shows the results from the application of mathematical simulation to study the quantum efficiency of a microstrips crystalline silicon detector, intended for medical imaging and the development of other applications such as authentication and dating of cultural heritage. The effects on the quantum efficiency of some parameters of the system, such as the detector-source geometry, X rays energy and detector dead zone thickness, were evaluated. The simulation results were compared with the theoretical prediction and experimental available data, resulting in a proper correspondence. It was concluded that the use of frontal configuration for incident energies lower than 17 keV is more efficient, however the use of the edge-on configuration for applications requiring the detection of energy above this value is recommended. It was also found that the reduction of the detector dead zone led to a considerable increase in quantum efficiency for any energy value in the interval from 5 to 100 keV.

2.
Nucleus (La Habana) ; (43): 9-13, ene.-jun. 2008.
Artículo en Español | LILACS | ID: lil-738905

RESUMEN

La radiografía de rayos-X juega un papel importante en el estudio de obras de arte, específicamente suministra información sobre la génesis, autenticidad, técnica de la pintura, condiciones del material e historia de su conservación. El trabajo muestra un sistema desarrollado, a partir de detectores semiconductores de microbandas para adquirir imágenes de rayos X basado en la técnica de substracción logarítmica del borde de absorción K. El sistema se caracterizó y se muestran las primeras imágenes de su aplicación en la detección de pigmentos.


X-ray radiography plays an important role in the study of artworks. It particularly provides information on the origin, authenticity, painting technique, material conditions and its conservation history. This article describes a system based on semiconductor microstrip detector for acquisition X-ray images using the k-edge logarithmic substraction technique. The system has been characterized and the first images of its application for pigment detection are shown.

3.
Nucleus (La Habana) ; (43): 21-26, ene.-jun. 2008.
Artículo en Español | LILACS | ID: lil-738907

RESUMEN

Para la radiografía digital se requieren circuitos que realicen la recepción y procesamiento de señales nucleares de múltiples canales simultáneamente. Estos circuitos se deben someter a pruebas para caracterizar su funcionamiento. En este trabajo se describen pruebas automatizadas para controlar por software desde una computadora personal la caracterización de un sistema basado en circuitos integrados específicos del tipo RX64DTH con detectores de microbandas y se muestran los resultados.


Circuits that carry out the signal acquisition and processing by multiple channels are required in digital radiography. These circuits should be tested in order to characterize their performance. This paper describes an automated system to control (by a software, from a personal computer) the characterization of a system based on RX64DTH specific integrated circuits with microstrip detectors. The results are shown.

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