Análise de três diferentes implantes osseointegrados / Scanning electron microscopy of three different osseointegration implants
Rev. Assoc. Paul. Cir. Dent
;
47(5): 1135-9, set.-out. 1993. ilus
Article
in Portuguese
| LILACS, BBO
| ID: lil-132909
RESUMO
O objetivo dos autores do presente estudo foi comparar, com o auxílio do microscópio eletrônico de varredura (MEV), as superfícies dos implantes TF, SR-PRESS, e Screw-Vent. Os resultados demonstraram a presença de contaminantes nos implantes TF e SR-PRESS, e diferenças de superfície entre os implantes analisados
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Index:
LILACS (Americas)
Main subject:
Titanium
/
Microscopy, Electron, Scanning
/
Dental Implants
/
Osseointegration
Limits:
Humans
Language:
Portuguese
Journal:
Rev. Assoc. Paul. Cir. Dent
Journal subject:
Dentistry
Year:
1993
Type:
Article
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