Caracterização microestrutural de implantes odontológicos submetidos a ensaio de tração / Characterization of microestructural dental implants subject to pull test

RESUMO

O objetivo do nosso estudo foi caracterizar a superfície de implantes submetidos a ensaio de tração em osso sintético através de microscopia eletrônica de varredura (MEV) e espectometria de energia dispersiva de raios X (EDS). Para a caracterização dos implantes foi utilizado Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) acoplado a um EDS, e para o ensaio de tração, Máquina Universal de Ensaios. Fêmures de osso sintético foram utilizados como corpos de prova nos quais foram inseridos quatro tipos de implantes na seguinte sequência: implantes cilíndricos com superfície usinada (ICSU), implantes cilíndricos com duplo tratamento de superfície Porus (ICDTS), implantes cilíndricos com tratamento de superfície Porus (ICTSP), implantes cônicos com tratamento de superfície Porus (ICOTSP), totalizando 8 amostras de osso e 32 implantes. ntes da inserção e após o ensaio de tração os parafusos foram analisados em MEV e EDS(Zeiss, modelo: EVO50), sob aumento de 35 x. Os resultados foram submetidos ao teste de análise de variância multifatorial (ANOVA) seguido pelo teste de Tukey (significância de 5 por cento para os testes). Apenas os implantes ICOTSP de 3,5mm de diâmetro e os implantes ICDTSP de 3,75mm apresentaram diferença significante quanto às forças de deformação (FD) a arrancamento (FA) (Tukey: FD -P=0,014.