Análise de três diferentes implantes osseointegrados / Scanning electron microscopy of three different osseointegration implants
Rev. Assoc. Paul. Cir. Dent
;
47(5): 1135-9, set.-out. 1993. ilus
Artículo
en Portugués
| LILACS, BBO
| ID: lil-132909
RESUMO
O objetivo dos autores do presente estudo foi comparar, com o auxílio do microscópio eletrônico de varredura (MEV), as superfícies dos implantes TF, SR-PRESS, e Screw-Vent. Os resultados demonstraram a presença de contaminantes nos implantes TF e SR-PRESS, e diferenças de superfície entre os implantes analisados
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Índice:
LILACS (Américas)
Asunto principal:
Titanio
/
Microscopía Electrónica de Rastreo
/
Implantes Dentales
/
Oseointegración
Límite:
Humanos
Idioma:
Portugués
Revista:
Rev. Assoc. Paul. Cir. Dent
Asunto de la revista:
Odontología
Año:
1993
Tipo del documento:
Artículo
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