Microanálisis de capas pictóricas en esculturas policromadas / Microanalysis of pictorial layers in polychrome sculptures

RESUMEN

RESUMEN Se analizan muestras de secciones transversales de esculturas en madera policromadas por los métodos de microanálisis Microscopía óptica, las técnicas nucleares microfluorescencia de rayos X y microemisión de rayos X inducida por protones con sistema de detección por dispersión de Rutherford acoplado y el método tradicional de Microscopía Electrónica de Barrido con detección de fluorescencia de rayos X dispersiva en energía acoplada. Se enfatiza en la microfluorescencia de rayos X por ser un método novedoso a partir del desarrollo alcanzado en la óptica de rayos X y que se puede implementar en un sistema convencional de FRX. Los resultados se comparan en cuanto a resolución espacial para diferenciar la estructura de capas pictóricas y sensibilidad elemental. Se determinaron el número de capas, su posición relativa, su espesor y la composición química de los pigmentos para caracterizar valiosas policromías de la otrora iglesia habanera San Juan de Letrán con el objetivo de obtener información acerca de la "historia materia"; que deba contribuir a su investigación de procedencia y atribución. Los pigmentos usados en esta obra artística se identificaron por los elementos característicos. Los mapas de distribución elemental obtenidos por las técnicas nucleares usadas, reproducen exactamente las estructuras observadas en las fotomicrografías obtenidas por medio de la microscopía de luz.

ABSTRACT

ABSTRACT Cross section samples from polychrome wood sculpture are analyzed by optical microscopy, the nuclear techniques micro-X Ray Fluorescence, micro- Proton induced X-ray Emission coupled with Rutherford Backscattering and the traditional method by Scanning Electronic Microscopy with Energy Dispersive X-ray fluorescence detection (SEM-EDX) micro-analytical methods. Special emphasis is dedicated to µXRF, a novel advanced technique developed thanks to the last achievements of the X-ray optics that can be available by modifying conventional laboratory XRF spectrometer, representing an alternative to the traditional and expensive SEM-EDX stratigraphic analysis of pictorial works. The results are compared with respect to spatial resolution to differentiate pictorial layer structure and elemental sensitivity. Number of layer, relative position of layer, layer thickness and chemical composition of pigments are determined in the characterization of valuable polychromies of once church San Juan de Letrán in order to obtain information about their "material history" that should contribute to its provenance and attribution research. The pigments used in this artistic works were identified by their characteristic elements. The elemental distribution maps obtained by the used nuclear techniques precisely reproduced microphotographies obtained by means of Light Microscopy.