Análise de falhas na superfície ativa de diferentes instrumentos de níquel-titânio por meio da microscopia eletrônica de varredura / Analysis of Failure in the Active Surface of Different Nickel-Titanium Instruments by Scanning Electron Microscopy

RESUMO

Objetivo: Analisar falhas de fabricação na superfície ativa de diferentes instrumentos de níquel-titânio por meio da microscopia eletrônica de varredura. Material e método: Foram analisados um total de 33 instrumentos distribuídos em dois grupos de acordo com a procedência G1 - Sistema Protaper Next® sendo analisados 03 kits de 05 instrumentos de NiTi cada (X1 ­ 17/0.04; X2 ­ 25/0.06; X3 ­ 30/0.07; X4 ­ 40/0.06; X5 ­ 50.0.06); G2 - Sistema Biorace®, sendo analisados 03 kits constituído de 06 instrumentos cada (BR0 ­ 25/0.08; BR1 ­ 15/0.05; BR2 ­ 25/0.04; BR3 ­ 25/0.06; BR4 ­ 35/0.04; BR5 ­ 40/0.04); Os instrumentos foram retirados da embalagem e direcionados para a análise de falhas na superfície ativa em imagens de microscopia eletrônica de varredura. Para determinação das falhas na superfície do instrumento, dividiu-se a parte ativa de 16mm em 14 partes de 2,55mm cada (S1-S7), nominadas seguimentos de 1 ao 7. Resultados: As frequências de defeitos encontradas para cada segmento dos instrumentos analisados foram cruzadas com os dados do número do instrumento por meio do teste do Qui-quadrado. Houve influência de uma variável sobre a outra apenas quando se analisou o segmento 1 do kit Protaper Next (p=0,005). O instrumento X4 mostrou um número maior de falhas que os demais instrumentos. A relação entre o número de defeitos observados nos diferentes sistemas de instrumentos foi avaliada pelo teste do Qui-quadrado. Não foram encontradas diferenças estatisticamente significantes entre Biorace e Protaper Next (p>0,05). Conclusão: Ambos os instrumentos dos grupos analisados apresentaram algum tipo de falha na superfície ativa.

ABSTRACT

Aim: To analyze manufacturing failures in the active surface of different nickel-titanium instruments by of scanning electron microscopy. Material and method: A total of 33 instruments distributed in two groups according to the provenance were analyzed G1 - Protaper Next® System and 03 kits of 05 NiTi instruments were analyzed (X1 - 17 / 0.04; X2 - 25 / 0.06; X3- 30 / 0.07; X4-40 / 0.06; X5-50.0.06); G2 - Biorace® system, with three kits consisting of 06 instruments each (BR0 - 25 / 0.08; BR1 - 15 / 0.05; BR2 - 25 / 0.04; BR3 - 25 / 0.06; BR4 - 35 / 0.04); The instruments were removed and analysis of active surface defects in scanning electron microscopy images. In order to determine the defects on the instrument surface, the active part of 16mm was divided into 14 parts of 2,55mm each (S1-S7), named sequences from 1 to 7. Results: The frequencies of defects found for each segment of instruments were cross-checked with the instrument number data using the chi-square test. There was influence of one variable on the other only when analyzing Segment 1 of the Protaper Next Kit (p = 0.005). Instrument X4 showed more failures than other instruments. The relationship between the number of defects observed in the different instrument systems was evaluated by the chi-square test. No statistically significant differences were found between Biorace and Protaper Next (p> 0.05). Conclusion: Both instruments of the analyzed groups presented some type of fault on the active surface.