Análise de três diferentes implantes osseointegrados / Scanning electron microscopy of three different osseointegration implants
Rev. Assoc. Paul. Cir. Dent
; 47(5): 1135-9, set.-out. 1993. ilus
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| LILACS, BBO
| ID: lil-132909
Responsable en Bibliothèque :
BR97.1
RESUMO
O objetivo dos autores do presente estudo foi comparar, com o auxílio do microscópio eletrônico de varredura (MEV), as superfícies dos implantes TF, SR-PRESS, e Screw-Vent. Os resultados demonstraram a presença de contaminantes nos implantes TF e SR-PRESS, e diferenças de superfície entre os implantes analisados
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Indice:
LILACS
Sujet Principal:
Titane
/
Microscopie électronique à balayage
/
Implants dentaires
/
Ostéo-intégration
Limites du sujet:
Humans
langue:
Pt
Texte intégral:
Rev. Assoc. Paul. Cir. Dent
Thème du journal:
ODONTOLOGIA
Année:
1993
Type:
Article