The testing and verification for interconnect faults based on cluster FPGA configuration / 中国医疗器械杂志
Chinese Journal of Medical Instrumentation
;
(6): 189-192, 2005.
Article
Dans Chinois
| WPRIM
| ID: wpr-344216
Texte intégral:
Disponible
Indice:
WPRIM (Pacifique occidental)
Sujet Principal:
Contrôle de qualité
/
Algorithmes
/
Ordinateurs
/
Reconnaissance automatique des formes
/
Intelligence artificielle
/
/
Analyse de panne d'appareillage
/
Internet
/
Conception d'appareillage
/
Méthodes
langue:
Chinois
Texte intégral:
Chinese Journal of Medical Instrumentation
Année:
2005
Type:
Article
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