Análise de três diferentes implantes osseointegrados / Scanning electron microscopy of three different osseointegration implants
Rev. Assoc. Paul. Cir. Dent
;
47(5): 1135-9, set.-out. 1993. ilus
Artigo
em Português
| LILACS, BBO
| ID: lil-132909
RESUMO
O objetivo dos autores do presente estudo foi comparar, com o auxílio do microscópio eletrônico de varredura (MEV), as superfícies dos implantes TF, SR-PRESS, e Screw-Vent. Os resultados demonstraram a presença de contaminantes nos implantes TF e SR-PRESS, e diferenças de superfície entre os implantes analisados
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Índice:
LILACS (Américas)
Assunto principal:
Titânio
/
Microscopia Eletrônica de Varredura
/
Implantes Dentários
/
Osseointegração
Limite:
Humanos
Idioma:
Português
Revista:
Rev. Assoc. Paul. Cir. Dent
Assunto da revista:
Odontologia
Ano de publicação:
1993
Tipo de documento:
Artigo
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