Microscopia eletrônica de varredura em implantodontia: carecterísticas morfológicas e composição química da superfície e da micro-fenda implante-abutment dos implantes SIN™ / Scanning electron microscopy in implantology

RESUMO

O objetivo deste estudo foi avaliar em microscopia eletrônica de varredura (MEV) as características da superfície de implantes e da micro fenda existente entre os componentes de implantes de dois estágios, e com auxílio da espectroscopia de dispersão de energia (EDS) a composição química da superfície dos implantes. Foram utilizados quatro implantes cilíndricos de hexágono externo com superfície condicionada por duplo ataque ácido aos quais foram adaptados e travados abutments cônicos com torque definitivo de 30 N/cm. A micro fenda existente entre o conjunto implante-abutment foi medida em quatro pontos eqüidistantes com três repetições para cada implante. Essas medidas foram transformadas em média ± desvio padrão. Os resultados mostraram que a micro fenda entre o implante e o abutment foi pequena, com média de 2,83 µm. Com relação à superfície dos implantes foi observado que o tratamento químico proporcionou superfície rugosa sem presença de crateras acentuadas ou defeitos. A análise em espectroscopia mostrou que os implantes são fabricados com titânio puro, sem presença de contaminantes ou outros elementos químicos na sua superfície que pudessem prejudicar a osteointegração.