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Avaliação da espessura e contaminantes de camada de óxido de diferentes implantes dentais / Evaluation of the thisckness and contaminants of the oxide layer in different implants
Junuário, Alessandro Lourenço; Sallum, Enilson Antônio; Sallum, Antônio Wilson; Toledo, Sérgio de; Landers, Richard; Nociti Júnior, Francisco Humberto.
  • Junuário, Alessandro Lourenço; s.af
  • Sallum, Enilson Antônio; Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Odontologia de Piracicaba. BR
  • Sallum, Antônio Wilson; Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Odontologia de Piracicaba. BR
  • Toledo, Sérgio de; Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Odontologia de Piracicaba. BR
  • Landers, Richard; Universidade Estadual de Campinas. Instituto de Física Gleb Wataghin. BR
  • Nociti Júnior, Francisco Humberto; Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Odontologia de Piracicaba. BR
RPG rev. pos-grad ; 12(2): 205-211, abr.-jun. 2005. ilus, graf
Artigo em Português | LILACS, BBO | ID: lil-457181
RESUMO
A proposta deste trabalho foi identificar e qualificar os elementos químicos presentes na camada de óxido de titânio bem como a espessura de cinco marcas de implantes dentais osseointegráveis. Foram submetidos à espectroscopia de fotoelétrons, excitados por raios X, implantes lisos de 3,75 x 10 mm das seguintes marcas Nobel Biocare (Grupo A), 3I (Grupo B), Conexão (Grupo C), AS Thechnology (Grupo D) e Napio (Grupo E). As amostras relativas aos implantes dos Grupos A, B, C, D e E apresentaram espessuras médias de 15 +/- 3; 6,3 +/- 0,5; 6,0 +/- 0,2; 6,3 +/- 0,4 e 11 +/- 3 nm respectivamente. Em termos de contaminantes, os implantes do Grupo A apresentaram apenas carbono e em menor concentração que nos demais grupos. Na superfície dos implantes dos Grupos B, C, D e E, além de Carbono, também se observou a presença de comtaminantes orgânicos.
Assuntos
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Índice: LILACS (Américas) Assunto principal: Espectrometria por Raios X / Titânio / Implantação Dentária Endóssea Tipo de estudo: Estudos de avaliação Idioma: Português Revista: RPG rev. pos-grad Ano de publicação: 2005 Tipo de documento: Artigo País de afiliação: Brasil Instituição/País de afiliação: Universidade Estadual de Campinas/BR

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