Influência da metodologia de avaliação da camada semi-redutora em radiologia diagnóstica / The methodology for evaluating half-value layer and its influence on the diagnostic radiology

RESUMO

OBJETIVO: A análise crítica da metodologia de medida da camada semi-redutora em feixes de raios X teve como base o regulamento técnico para proteção radiológica e controle de qualidade em radiodiagnóstico médico e odontológico. MATERIAIS E MÉTODOS: Na medida da camada semi-redutora, a técnica radiográfica, o arranjo experimental, os meios espalhadores, a instrumentação, o tamanho de campo de radiação e a metodologia de análise dos dados foram considerados. RESULTADOS: A camada semi-redutora obtida em condições de boa geometria, para a técnica escolhida, foi de 2,44 ± 0,02 mmAl. Em relação a este valor, observaram-se desvios máximos na camada semi-redutora de 4,1 por cento na variação da geometria, de 98,8 por cento na variação da câmara de ionização e do meio espalhador, e de até 29,5 por cento com outro tipo de detector. CONCLUSÃO: Os resultados mostraram que não ocorre variação significante na camada semi-redutora para diferentes tamanhos de campo de radiação, mas foram evidentes a influência do espalhamento na superestimação da camada semi-redutora e a redução desta na presença de blocos de chumbo como meio espalhador. O procedimento prático adotado mostrou-se bastante confiável e evidenciou a grande discrepância decorrente da adoção de metodologias impróprias, enfatizando a necessidade de estabelecer um procedimento padrão para a medida da camada semi-redutora.

ABSTRACT

OBJECTIVE: The critical analysis of the methodology for evaluating the x-ray beam half-value layer was based on technical standards for radiological protection and quality control in medical and dental diagnoses. MATERIALS AND METHODS: Exposure parameters, experimental set-up, scattering materials, instrumentation, size of radiation field and methodology of data analysis have been taken into consideration for measurements of half-value layer. RESULTS: The half-value layer, in good geometry, measured 2.44 ± 0.02 mmAl. A maximum deviation of 4.1 percent was found under other geometry conditions. A 98.8 percent deviation was observed with a different ionization chamber, and scattering material, and 29.5 percent with another type of detector. CONCLUSION: Results showed that no relevant variation is observed in the half-value layer for different radiation field sizes. On the other hand, the influence of the radiation scattering on the half-value layer overestimation was clearly observed, as well as the half-value layer reduction in the presence of lead used as scattering material. The practical methodology adopted for half-value layer evaluation has shown to be quite reliable, besides evidencing remarkable discrepancies resulting from the adoption of inappropriate methodologies, emphasizing the necessity of establishing a standard procedure for measuring the half-value layer.