Avaliação de implante dental comprometido empregando microscopia eletrônica de varredura e espectrometria dispersiva de raio X / Evaluation of compromised dental implant by using scanning electron microscopy and energy-dispersive spectrometer X-ray

RESUMO

O sucesso e durabilidade dos implantes dentais são observados na maior parte dos tratamentos para reposição de dentes, entretanto, algumas fallhas, relatadas na literatura, podem comprometer a reabilitação dos pacientes. Um paciente de 46 anos de idade foi reabilitado com uma prótese clássica de Brånemark, entretanto, um implante da região anterior da mandíbula, que sustentava a mesma, após 18 meses da instalação apresentou mobilidade, dor, e exsudação, sendo necessária sua remoção. O processo de osseointegração se dá entre as superfícies ósseas e óxidos formados sobre a superfície do titânio comercialmente puro, utilizado na fabricação dos implantes dentais. Entretanto, agentes contaminantes podem se desprender da camada superficial dos implantes, potencializar a resposta inflamatória e alterar o processo de cicatrização, o que pode levar à perda do implante. Com o objetivo de avaliar a presença de possíveis contaminantes na superfície do implante perdido, o mesmo foi encaminhado ao Centro de Caracterização e Desenvolvimento de Materiais (CCDM) para análise, por microscopia eletrônica de varredura e espectrometria dispersiva de raio X (MEV/EDS). Verificou-se a presença de elementos, como C, Ca, Na, Cl e Si. Esses elementos podem ser originários dos fluidos corporais ou dos processos finais de fabricação, não sendo possível, pelas técnicas utilizadas, estabelecer sua origem.

ABSTRACT

The success and durability of dental implants are observed in the most part of treatments to replace missing teeth, however, some failures of them, described in the literature, can compromise the patient's rehabilitation. A 46-years-old patient was rehabilitated with a Brånemark classical prosthesis. However one implant in the anterior region of the mandible, that sustained the prosthesis, after 18 months of the installation showed mobility, pain and exsudation, being necessary to retrieve it. The osseointegration process is established between bone tissue and oxides formed on surface of commercially pure titanium, used in the manufacture of the dental implants. However, contaminants agents can be released from superficial layer of dental implants, potencialize inflammatory response and modify the healing process, causing dental implant loss. Aiming to evaluate the presence of possible contaminants in the surface of the lost dental implant, it was sent to CCDM for analysis by using scanning electron microscopy and energy-dispersive spectrometer X-ray (SEM/EDS). It was verified the presence of elements, as C, P, Ca, Na, Cl, Si. These elements can be originated from body fluids or final stages of manufacture, not being possible, for the used techniques to conclude their origin.