Análisis químico de la superficie de los implantes de titanio comercialmente puro a través de espectroscopía de fotoelectrones por rayos-x (xps) / Chemical analysis of pure titanium commercial implants through x-ray (xps) photoelectron spectroscopy
Int. j. odontostomatol. (Print)
;
7(3): 359-364, Dec. 2013. ilus
Artigo
em Espanhol
| LILACS
| ID: lil-696563
RESUMEN
Este trabajo tiene como objetivo analizar, químicamente la superficie de implantes de titanio comercialmente puro, utilizados actualmente en la odontología. Fueron seleccionados ocho implantes de las siguientes marcas Conexão Sistema de Prótesis; Lifecore - Biomedical; AS Technology y S Serson Internacional. Las muestras presentaron tratamiento de superficie a través de las técnicas de ataque ácido (Conexão) y plasma spray de titanio (Lifecore - Biomedical; AS Technology y S Serson International). Fueron divididas en cuatro grupos, conteniendo dos implantes del mismo lote de cada fabricante. Los análisis fueron realizados a través de espectroscopía de fotoelectrones excitada por rayos-X (XPS). Los resultados de los análisis químicos mostraron los elementos de titanio (Ti), oxígeno (O), silicio (Si), zinc (Zn), aluminio (Al) y carbono (C). Se puede concluir que hay impurezas en las superficies de los implantes, aunque se necesitan más trabajos que relacionen la presencia de estos compuestos y su interferencia en la oseointegración.
ABSTRACT
This work aims to analyze chemically the surface of pure titanium commercial implants, currently used in dentistry. Eight implants were selected from the following manufacturers Conexão sistema de prótesis; Lifecore - Biomedical; as technology and s Serson International. The samples showed surface treatment through acid attack techniques (conexão) and titanium plasma spray (Lifecore - Biomedical; technology as and s-Serson International), being divided into four groups containing two implants of the same batch of each manufacturer. Analyses were performed by x- ray excited (XPS) photoelectron spectroscopy. The results of chemical analysis showed the elements Titanium (Ti), Oxygen (O), Silicon (Si), Zinc (Zn), Aluminum (Al) and Carbon (C). It can be concluded that there are impurities in the implant surface, although further studies are needed that associate the presence of these compounds and their interference in osseointegration.
Texto completo:
DisponíveL
Índice:
LILACS (Américas)
Assunto principal:
Espectrometria por Raios X
/
Titânio
/
Implantes Dentários
Limite:
Humanos
Idioma:
Espanhol
Revista:
Int. j. odontostomatol. (Print)
Assunto da revista:
Odontologia
Ano de publicação:
2013
Tipo de documento:
Artigo
País de afiliação:
Brasil
/
Chile
Instituição/País de afiliação:
Universidad Estadual de Campinas/BR
/
Universidad de La Frontera/BR
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