Detalles de la búsqueda
1.
Nonresonant Transmission Line Probe for Sensitive Interferometric Electron Spin Resonance Detection.
Anal Chem
; 91(17): 11108-11115, 2019 09 03.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-31380627
2.
Wafer-Level Electrically Detected Magnetic Resonance: Magnetic Resonance in a Probing Station.
IEEE Trans Device Mater Reliab
; 182018.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30983909
3.
Data-driven RRAM device models using Kriging interpolation.
Sci Rep
; 12(1): 5963, 2022 Apr 08.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35396453
4.
Slow- and rapid-scan frequency-swept electrically detected magnetic resonance of MOSFETs with a non-resonant microwave probe within a semiconductor wafer-probing station.
Rev Sci Instrum
; 90(1): 014708, 2019 Jan.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30709237
5.
Vectorized magnetometer for space applications using electrical readout of atomic scale defects in silicon carbide.
Sci Rep
; 6: 37077, 2016 11 28.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27892524
6.
Erratum: Vectorized magnetometer for space applications using electrical readout of atomic scale defects in silicon carbide.
Sci Rep
; 7: 40834, 2017 01 16.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-28091619
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