Detalles de la búsqueda
1.
Sample preparation for analytical scanning electron microscopy using initial notch sectioning.
Micron
; 150: 103090, 2021 Nov.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34385109
2.
Rapid and localized ion-beam etching of surfaces using initial notches.
Micron
; 107: 35-42, 2018 04.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29414134
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