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1.
In Situ Ion Counting for Improved Implanted Ion Error Rate and Silicon Vacancy Yield Uncertainty.
Nano Lett
; 22(8): 3212-3218, 2022 Apr 27.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35426685
2.
Electric current paths in a Si:P delta-doped device imaged by nitrogen-vacancy diamond magnetic microscopy.
Nanotechnology
; 34(1)2022 Oct 20.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-36170794
3.
Growth of ultra long multiwall carbon nanotube arrays by aerosol-assisted chemical vapor deposition.
J Nanosci Nanotechnol
; 10(9): 6116-9, 2010 Sep.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21133158
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