Detalles de la búsqueda
1.
Fault localization and analysis in semiconductor devices with optical-feedback infrared confocal microscopy.
Appl Opt
; 46(31): 7625-30, 2007 Nov 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-17973006
2.
High-resolution mapping of quantum efficiency of silicon photodiode via optical-feedback laser microthermography.
Appl Opt
; 45(27): 6947-53, 2006 Sep 20.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-16946770
3.
High-contrast microscopy of semiconductor and metal sites in integrated circuits by detection of optical feedback.
Opt Lett
; 29(21): 2479-81, 2004 Nov 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-15584267
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