Detalles de la búsqueda
1.
Rapid ultrasensitive and specific BNP biosensor with LED readout.
Biomed Microdevices
; 26(3): 27, 2024 May 30.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38814352
2.
New Insights into Mechanism of Surface Reactions of ZnO Nanorods During Electrons Beam Irradiation.
J Nanosci Nanotechnol
; 18(9): 5996-6000, 2018 09 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29677731
3.
Reliability Improvement in Solution-Processed ZrO2 Dielectrics Due to Addition of H2O2.
J Nanosci Nanotechnol
; 18(9): 5876-5881, 2018 09 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29677709
4.
Incorporation of Si and Zr into Pure HfO2 and Its Effects on Dielectric Integrity.
J Nanosci Nanotechnol
; 18(9): 5899-5903, 2018 09 01.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-29677713
5.
Nonstoichiometric Solution-Processed BaTiO3 Film for Gate Insulator Applications.
J Nanosci Nanotechnol
; 18(9): 5942-5946, 2018 09 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29677721
6.
Investigation of the Charge Balance in Green Phosphorescent Organic Light-Emitting Diodes by Controlling the Mixed Host Emission Layer.
J Nanosci Nanotechnol
; 18(9): 5908-5912, 2018 09 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29677715
7.
Optimization of the Solution-Based Indium-Zinc Oxide/Zinc-Tin Oxide Channel Layer for Thin-Film Transistors.
J Nanosci Nanotechnol
; 18(9): 5913-5918, 2018 09 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29677716
8.
Electrical Characterization of Charge Polarity in AlF3 Anti-Reflection Layers for Complementary Metal Oxide Semiconductor Image Sensors.
J Nanosci Nanotechnol
; 18(9): 6005-6009, 2018 09 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29677733
9.
Performance degradation of c-Si solar cells under UV exposure.
J Nanosci Nanotechnol
; 14(5): 3561-3, 2014 May.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-24734588
10.
A Study on the Role of Pre-Cleaning and a New Method to Strengthen Gate Oxide Quality.
Nanomaterials (Basel)
; 12(9)2022 May 05.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35564272
11.
Highly Reliable Flexible Device with a Charge Compensation Layer.
ACS Appl Mater Interfaces
; 14(10): 12863-12872, 2022 Mar 16.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35234454
12.
Enhanced Hole Injection Characteristics of a Top Emission Organic Light-Emitting Diode with Pure Aluminum Anode.
Nanomaterials (Basel)
; 11(11)2021 Oct 27.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34835634
13.
Threshold voltage instability and polyimide charging effects of LTPS TFTs for flexible displays.
Sci Rep
; 11(1): 8387, 2021 Apr 16.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-33863982
14.
Negative Bias Instability of InZnO-Based Thin-Film Transistors Under Illumination Stress.
J Nanosci Nanotechnol
; 21(8): 4277-4284, 2021 Aug 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-33714314
15.
Leakage Current Analysis Method for Metal Insulator Semiconductor Capacitors Through Low-Frequency Noise Measurement.
J Nanosci Nanotechnol
; 21(3): 1966-1970, 2021 Mar 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-33404477
16.
Effects of polyimide curing on image sticking behaviors of flexible displays.
Sci Rep
; 11(1): 21805, 2021 Nov 08.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34750451
17.
Hydrogen Permeation and Its Impacts on the Electrical Performance of Stacked ZrO2/Al2O3/ZrO2 Films.
J Nanosci Nanotechnol
; 20(11): 6638-6642, 2020 11 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-32604488
18.
Solution-Based Indium-Zinc Oxide/Indium-Gallium-Zinc Oxide Double-Channel Thin-Film Transistors with Incorporated Hydrogen Peroxide.
J Nanosci Nanotechnol
; 20(11): 6643-6647, 2020 Nov 01.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-32604489
19.
Hafnium Incorporation in InZnO Thin Film Transistors as a Carrier Suppressor.
J Nanosci Nanotechnol
; 20(11): 6675-6678, 2020 Nov 01.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-32604495
20.
Defect Analysis and Reliability Characteristics of (HfZrO4)1-x(SiO2)x High-κ Dielectrics.
J Nanosci Nanotechnol
; 20(11): 6718-6722, 2020 11 01.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-32604504