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1.
Random Telegraph Noises from the Source Follower, the Photodiode Dark Current, and the Gate-Induced Sense Node Leakage in CMOS Image Sensors.
Sensors (Basel)
; 19(24)2019 Dec 10.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-31835566
2.
Statistical Analysis of the Random Telegraph Noise in a 1.1 µm Pixel, 8.3 MP CMOS Image Sensor Using On-Chip Time Constant Extraction Method.
Sensors (Basel)
; 17(12)2017 Nov 23.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29168778
3.
A 45 nm Stacked CMOS Image Sensor Process Technology for Submicron Pixel.
Sensors (Basel)
; 17(12)2017 Dec 05.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29206162
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