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1.
Effect of energy per atom (E/n) on the Ar gas cluster ion beam (Ar-GCIB) and O2+ cosputter process.
Analyst
; 144(10): 3323-3333, 2019 May 13.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30968864
2.
Improvement of the gas cluster ion beam-(GCIB)-based molecular secondary ion mass spectroscopy (SIMS) depth profile with O2(+) cosputtering.
Analyst
; 141(8): 2523-33, 2016 Apr 21.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27000483
3.
Effect of surface potential on extracellular matrix protein adsorption.
Langmuir
; 30(34): 10328-35, 2014 Sep 02.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-25111830
4.
Integration of paper-based microarray and time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) for parallel detection and quantification of molecules in multiple samples automatically.
Anal Chim Acta
; 1005: 61-69, 2018 Apr 16.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29389320
5.
Effect of surface potential on epithelial cell adhesion, proliferation and morphology.
Colloids Surf B Biointerfaces
; 141: 179-186, 2016 May 01.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-26852101
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