Detalles de la búsqueda
1.
The NIST Vacuum Double-Crystal Spectrometer: A Tool for SI-Traceable Measurement of X-Ray Emission Spectra.
J Res Natl Inst Stand Technol
; 126: 126049, 2021.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38469442
2.
Certification of SRM 640f line position and line shape standard for powder diffraction.
Powder Diffr
; 35(3)2020 Sep.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34795466
3.
Certification of Standard Reference Material 660c for powder diffraction.
Powder Diffr
; 35(1)2020.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-33311851
4.
The Molybdenum K-shell X-ray Emission Spectrum.
J Phys B At Mol Opt Phys
; 52(21)2019.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-32103867
5.
Certification of Standard Reference Material 1879b Respirable Cristobalite.
Powder Diffr
; 332018.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30996514
6.
High-precision measurement of the X-ray Cu Kα spectrum.
J Phys B At Mol Opt Phys
; 50(11)2017 06.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-28757682
7.
The Lattice Spacing Variability of Intrinsic Float-Zone Silicon.
J Res Natl Inst Stand Technol
; 122: 1-25, 2017.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34877081
8.
Characterization of a self-calibrating, high-precision, stacked-stage, vertical dual-axis goniometer.
Metrologia
; 53(3): 933-944, 2016 Jun.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27330224
9.
An Implementation of the Fundamental Parameters Approach for Analysis of X-ray Powder Diffraction Line Profiles.
J Res Natl Inst Stand Technol
; 120: 223-51, 2015.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-26958448
10.
The Optics and Alignment of the Divergent Beam Laboratory X-ray Powder Diffractometer and its Calibration Using NIST Standard Reference Materials.
J Res Natl Inst Stand Technol
; 120: 173-222, 2015.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-26958446
11.
The NIST silicon lattice comparator upgrade.
Rev Sci Instrum
; 94(10)2023 Oct 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-37787633
12.
Polarization effects of X-ray monochromators modeled using dynamical scattering theory.
Acta Crystallogr A Found Adv
; 77(Pt 4): 262-267, 2021 Jul 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34196288
13.
Model-independent extraction of the shapes and Fourier transforms from patterns of partially overlapped peaks with extended tails.
Acta Crystallogr A Found Adv
; 75(Pt 1): 158-164, 2019 Jan 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30575593
14.
The optics of focusing bent-crystal monochromators on X-ray powder diffractometers with application to lattice parameter determination and microstructure analysis.
J Appl Crystallogr
; 52(5)2019.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-32165765
15.
Bayesian Inference of Nanoparticle-Broadened X-Ray Line Profiles.
J Res Natl Inst Stand Technol
; 109(1): 155-178, 2004.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27366604
16.
Addressing the amorphous content issue in quantitative phase analysis: the certification of NIST standard reference material 676a.
Acta Crystallogr A
; 67(Pt 4): 357-67, 2011 Jul.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21694474
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