Detalles de la búsqueda
1.
Controlled formation and resistivity scaling of nickel silicide nanolines.
Nanotechnology
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-19417448
2.
RM 8111: Development of a Prototype Linewidth Standard.
J Res Natl Inst Stand Technol
; 111(3): 187-203, 2006.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27274928
3.
Fabrication and characterization of patterned single-crystal silicon nanolines.
Nano Lett
; 8(1): 92-8, 2008 Jan.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-18062713
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