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Removing Beam Current Artifacts in Helium Ion Microscopy: A Comparison of Image Processing Techniques.
Microsc Microanal
; 22(5): 939-947, 2016 10.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-27619633
2.
A compact torsional reference device for easy, accurate and traceable AFM piconewton calibration.
Nanotechnology
; 24(33): 335706, 2013 Aug 23.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-23892516
3.
Demonstration of chemistry at a point through restructuring and catalytic activation at anchored nanoparticles.
Nat Commun
; 8(1): 1855, 2017 11 30.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-29187751
4.
Accurate analytical measurements in the atomic force microscope: a microfabricated spring constant standard potentially traceable to the SI.
Nanotechnology
; 14(12): 1279-88, 2003 Dec.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-21444981
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