Detalles de la búsqueda
1.
Computational requirements for real-time ptychographic image reconstruction.
Appl Opt
; 58(7): B19-B27, 2019 Mar 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30874231
2.
Physical fault tolerance of nanoelectronics.
Phys Rev Lett
; 106(17): 176801, 2011 Apr 29.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21635055
3.
Nanoscale x-ray imaging of circuit features without wafer etching.
Phys Rev B
; 95(10)2017 Mar 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-28752135
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