Detalles de la búsqueda
1.
Investigating the Behavior of Thin-Film Formation over Time as a Function of Precursor Concentration and Gas Residence Time in Nitrogen Dielectric Barrier Discharge.
Materials (Basel)
; 17(4)2024 Feb 14.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38399128
Resultados
1 -
1
de 1
1
Próxima >
>>