Detalles de la búsqueda
1.
Sub-picoliter Traceability of Microdroplet Gravimetry and Microscopy.
Anal Chem
; 94(2): 678-686, 2022 01 18.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34927410
2.
Traceable localization enables accurate integration of quantum emitters and photonic structures with high yield.
Opt Quantum
; 2(2): 72-84, 2024 Apr 25.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38741706
3.
Wear comparison of critical dimension-atomic force microscopy tips.
J Micro Nanolithogr MEMS MOEMS
; 19(1)2020.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-33304445
4.
Computational models of a nano probe tip for static behaviors.
Scanning
; 30(1): 47-55, 2008.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-18200506
5.
RM 8111: Development of a Prototype Linewidth Standard.
J Res Natl Inst Stand Technol
; 111(3): 187-203, 2006.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27274928
6.
Lateral Tip Control Effects in CD-AFM Metrology: The Large Tip Limit.
J Micro Nanolithogr MEMS MOEMS
; 15(1)2016 Jan 25.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27087883
7.
Deep-subwavelength Nanometric Image Reconstruction using Fourier Domain Optical Normalization.
Light Sci Appl
; 52016.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-26925297
8.
Evaluation of carbon nanotube probes in critical dimension atomic force microscopes.
J Micro Nanolithogr MEMS MOEMS
; 15(3): 034005, 2016 Jul.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27840664
9.
Tip characterization method using multi-feature characterizer for CD-AFM.
Ultramicroscopy
; 162: 25-34, 2016 Mar.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-26720439
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