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1.
Composition determination of semiconductor alloys towards atomic accuracy by HAADF-STEM.
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30844539
2.
Quantitative characterization of the interface roughness of (GaIn)As quantum wells by high resolution STEM.
Micron
; 79: 1-7, 2015 Dec.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-26280278
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