Detalles de la búsqueda
1.
Ellipsometric characterization of highly non-uniform thin films with the shape of thickness non-uniformity modeled by polynomials.
Opt Express
; 28(4): 5492-5506, 2020 Feb 17.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-32121768
2.
Spectroscopic ellipsometry of inhomogeneous thin films exhibiting thickness non-uniformity and transition layers.
Opt Express
; 28(1): 160-174, 2020 Jan 06.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-32118947
3.
Universal dispersion model for characterization of optical thin films over a wide spectral range: application to hafnia.
Appl Opt
; 54(31): 9108-19, 2015 Nov 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-26560562
4.
Measurement of thickness distribution, optical constants, and roughness parameters of rough nonuniform ZnSe thin films.
Appl Opt
; 53(25): 5606-14, 2014 Sep 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-25321353
5.
Influence of cross-correlation effects on the optical quantities of rough films.
Opt Express
; 16(11): 7789-803, 2008 May 26.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-18545489
6.
Measurement of doping profiles by a contactless method of IR reflectance under grazing incidence.
Rev Sci Instrum
; 89(6): 063114, 2018 Jun.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29960568
7.
Models of dielectric response in disordered solids.
Opt Express
; 15(24): 16230-44, 2007 Nov 26.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-19550911
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