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1.
Nanoscale Infrared Spectroscopic Characterization of Extended Defects in 4H-Silicon Carbide.
Nano Lett
; 24(1): 114-121, 2024 Jan 10.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38164942
2.
Detecting defects that reduce breakdown voltage using machine learning and optical profilometry.
Sci Rep
; 14(1): 7440, 2024 Mar 28.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38548848
3.
Using machine learning with optical profilometry for GaN wafer screening.
Sci Rep
; 13(1): 3352, 2023 Feb 27.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-36849490
4.
Optimizing performance and yield of vertical GaN diodes using wafer scale optical techniques.
Sci Rep
; 12(1): 658, 2022 Jan 13.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35027582
5.
Room Temperature Skyrmions in Strain-Engineered FeGe thin films.
Phys Rev B
; 101(22)2020 Jun.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38487734
6.
Experimental observation of soliton propagation and annihilation in a hydromechanical array of one-way coupled oscillators.
Phys Rev E Stat Nonlin Soft Matter Phys
; 78(6 Pt 2): 066604, 2008 Dec.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-19256965
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