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In-Depth Chemical and Optoelectronic Analysis of Triple-Cation Perovskite Thin Films by Combining XPS Profiling and PL Imaging.
ACS Appl Mater Interfaces
; 14(30): 34228-34237, 2022 Aug 03.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35245028
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