Detalles de la búsqueda
1.
Interface induced diffusion.
Sci Rep
; 11(1): 9308, 2021 Apr 29.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-33927332
2.
Ion mixing at 20 keV: a comparison of the effects of Ga+, Ar+ and CF4+ ion irradiation.
Ultramicroscopy
; 109(1): 129-32, 2008 Dec.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-18977599
3.
Electron irradiation induced amorphous SiO2 formation at metal oxide/Si interface at room temperature; electron beam writing on interfaces.
Sci Rep
; 8(1): 2124, 2018 02 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29391562
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