Detalles de la búsqueda
1.
Extended Charge Layers in Metal-Oxide-Semiconductor Nanocapacitors Revealed by Operando Electron Holography.
Phys Rev Lett
; 129(13): 137701, 2022 Sep 23.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-36206432
2.
Electromechanical coupling among edge dislocations, domain walls, and nanodomains in BiFeO3 revealed by unit-cell-wise strain and polarization maps.
Nano Lett
; 13(4): 1410-5, 2013 Apr 10.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-23418908
3.
Evidence of sharp and diffuse domain walls in BiFeO3 by means of unit-cell-wise strain and polarization maps obtained with high resolution scanning transmission electron microscopy.
Phys Rev Lett
; 109(4): 047601, 2012 Jul 27.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-23006107
4.
Optimization of off-axis electron holography performed with femtosecond electron pulses.
Ultramicroscopy
; 202: 26-32, 2019 Jul.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30933740
5.
Diffracted phase and amplitude measurements by energy-filtered convergent-beam holography (CHEF).
Ultramicroscopy
; 108(3): 285-94, 2008 Feb.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-18061351
6.
Mapping inelastic intensities in diffraction patterns of magnetic samples using the energy spectrum imaging technique.
Ultramicroscopy
; 108(5): 393-8, 2008 Apr.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-17619085
7.
Quantitative 3D electromagnetic field determination of 1D nanostructures from single projection.
Ultramicroscopy
; 164: 24-30, 2016 May.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-26998702
8.
Development of TEM and SEM high brightness electron guns using cold-field emission from a carbon nanotip.
Ultramicroscopy
; 151: 107-115, 2015 Apr.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-25522868
9.
Imaging conditions for reliable measurement of displacement and strain in high-resolution electron microscopy.
Ultramicroscopy
; 87(4): 199-212, 2001 May.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-11334167
10.
Dynamical effects in strain measurements by dark-field electron holography.
Ultramicroscopy
; 147: 70-85, 2014 Dec.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-25062040
11.
Dark-field electron holography for the measurement of geometric phase.
Ultramicroscopy
; 111(8): 1328-37, 2011 Jul.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21864773
12.
Strain mapping in nanowires.
Nanotechnology
; 16(10): 2365-71, 2005 Oct.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-20818019
13.
Calibration of projector lens distortions.
J Electron Microsc (Tokyo)
; 54(3): 181-90, 2005 Jun.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-16123065
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