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1.
The effect of wafer thinning and thermal capacitance on chip temperature of SiC Schottky diodes during surge currents.
Sci Rep
; 13(1): 19189, 2023 Nov 06.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-37932325
2.
Quantified density of performance-degrading near-interface traps in SiC MOSFETs.
Sci Rep
; 12(1): 4076, 2022 03 08.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35260739
3.
Integrated, Transparent Silicon Carbide Electronics and Sensors for Radio Frequency Biomedical Therapy.
ACS Nano
; 16(7): 10890-10903, 2022 07 26.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35816450
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