Detalles de la búsqueda
1.
Electron transport and room temperature single-electron charging in 10 nm scale PtC nanostructures formed by electron beam induced deposition.
Nanotechnology
; 28(47): 474002, 2017 Nov 24.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29027905
2.
Focused electron beam induced processing and the effect of substrate thickness revisited.
Nanotechnology
; 24(34): 345301, 2013 Aug 30.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-23899908
3.
Electron-beam patterned calibration structures for structured illumination microscopy.
Sci Rep
; 12(1): 20185, 2022 11 23.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-36418420
4.
Ultrahigh resolution focused electron beam induced processing: the effect of substrate thickness.
Nanotechnology
; 22(11): 115303, 2011 Mar 18.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21301081
5.
Combined Focused Electron Beam-Induced Deposition and Etching for the Patterning of Dense Lines without Interconnecting Material.
Micromachines (Basel)
; 12(1)2020 Dec 24.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-33374159
6.
Resists for sub-20-nm electron beam lithography with a focus on HSQ: state of the art.
Nanotechnology
; 20(29): 292001, 2009 Jul 22.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-19567961
7.
Creating pure nanostructures from electron-beam-induced deposition using purification techniques: a technology perspective.
Nanotechnology
; 20(37): 372001, 2009 Sep 16.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-19706953
8.
Resolution limit for electron beam-induced deposition on thick substrates.
Scanning
; 28(4): 204-11, 2006.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-16898667
9.
Low-energy foil aberration corrector.
Ultramicroscopy
; 93(3-4): 321-30, 2002 Dec.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-12492241
10.
Simulation of ion imaging: sputtering, contrast, noise.
Ultramicroscopy
; 111(8): 982-94, 2011 Jul.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21740861
11.
Resolution limit for EBID on thick substrates.
Scanning
; 27(3): 159, 2005.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-15934510
12.
Design of an aberration corrected low-voltage SEM.
Ultramicroscopy
; 110(11): 1411-9, 2010 Oct.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-20728276
13.
Growth behavior near the ultimate resolution of nanometer-scale focused electron beam-induced deposition.
Nanotechnology
; 19(22): 225305, 2008 Jun 04.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21825760
14.
Diffraction patterns of artificial two-dimensional crystals synthesized in situ in an environmental scanning transmission electron microscope.
J Microsc
; 221(Pt 3): 159-63, 2006 Mar.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-16551276
15.
The Differentiation of Pigmentation in Flower Parts, IV. Flavonoid Elaborating Enzymes From Petals of Impatiens balsamina s.
Plant Physiol
; 43(9): 1347-54, 1968 Sep.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-16656918
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