Detalles de la búsqueda
1.
Installation of New Systems for High-Energy Electron Energy-loss Spectrometry in an Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope.
Microsc Microanal
; 29(Supplement_1): 416-417, 2023 Jul 22.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-37613132
2.
Chromatic Aberration Correction for Atomic Resolution TEM Imaging from 20 to 80 kV.
Phys Rev Lett
; 117(7): 076101, 2016 Aug 12.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27563976
3.
Thermal magnetic field noise limits resolution in transmission electron microscopy.
Phys Rev Lett
; 111(4): 046101, 2013 Jul 26.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-23931384
4.
Thermal magnetic field noise: electron optics and decoherence.
Ultramicroscopy
; 151: 199-210, 2015 Apr.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-25499019
5.
A flexible multi-stimuli in situ (S)TEM: concept, optical performance, and outlook.
Ultramicroscopy
; 151: 31-36, 2015 Apr.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-25624019
6.
Corrigendum to: "A flexible multi-stimuli in-situ (S)TEM: Concept and optical performance" [Ultramicroscopy 151 (2015) 31-36].
Ultramicroscopy
; 182: 308, 2017 11.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-28668321
7.
A spherical aberration-corrected 200 kV TEM.
J Electron Microsc (Tokyo)
; 52(1): 3-10, 2003.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-12741482
Resultados
1 -
7
de 7
1
Próxima >
>>