Detalles de la búsqueda
1.
X-ray spectromicroscopy investigation of soft and hard breakdown in RRAM devices.
Nanotechnology
; 27(34): 345705, 2016 Aug 26.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27420908
2.
Magnetoresistive phenomena in an Fe-filled carbon nanotube/elastomer composite.
Nanotechnology
; 21(12): 125505, 2010 Mar 26.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-20203351
3.
Quantum conductance in silicon oxide resistive memory devices.
Sci Rep
; 3: 2708, 2013.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-24048282
4.
Investigation of quartz grain surface textures by atomic force microscopy for forensic analysis.
Forensic Sci Int
; 223(1-3): 245-55, 2012 Nov 30.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-23088825
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