Detalles de la búsqueda
1.
Total-reflection inelastic X-ray scattering from a 10-nm thick La0.6Sr0.4CoO3 thin film.
Phys Rev Lett
; 106(3): 037401, 2011 Jan 21.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21405295
2.
Atomic scale characterization of the Pt/TiO2 interface.
Micron
; 36(3): 233-41, 2005.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-15725592
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