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1.
Modelling and observations of electron beam charging of an insulator/metal bilayer and its impact on secondary electron images in defect inspection equipment.
J Electron Microsc (Tokyo)
; 59 Suppl 1: S189-93, 2010 Aug.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-20554754
2.
Simulation study on image contrast and spatial resolution in helium ion microscope.
J Electron Microsc (Tokyo)
; 56(5): 163-9, 2007 Oct.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-17989086
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