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1.
Structure and defect characterization of multiferroic ReMnO(3) films and multilayers by TEM.
Nanotechnology
; 21(7): 75705, 2010 Feb 19.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-20081285
2.
Hole free phase plate tomography for materials sciences samples.
Micron
; 116: 54-60, 2019 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30300824
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