Detalles de la búsqueda
1.
Visible upconversion luminescence of doped bulk silicon for a multimodal wafer metrology.
Opt Lett
; 46(13): 3071-3074, 2021 Jul 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34197383
2.
Super-contrast-enhanced darkfield imaging of nano objects through null ellipsometry.
Opt Lett
; 43(23): 5701-5704, 2018 Dec 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30499972
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