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1.
Atomic structure of 'W'-type quantum well heterostructures investigated by aberration-corrected STEM.
J Microsc
; 268(3): 259-268, 2017 12.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-28960298
2.
Quantitative composition determination by ADF-STEM at a low-angular regime: a combination of EFSTEM and 4DSTEM.
Ultramicroscopy
; 240: 113550, 2022 Oct.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-35724620
3.
Optimization of imaging conditions for composition determination by annular dark field STEM.
Ultramicroscopy
; 230: 113387, 2021 Nov.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-34619567
4.
Composition determination for quaternary III-V semiconductors by aberration-corrected STEM.
Ultramicroscopy
; 206: 112814, 2019 Nov.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-31310886
5.
Simultaneous determination of local thickness and composition for ternary III-V semiconductors by aberration-corrected STEM.
Ultramicroscopy
; 201: 49-57, 2019 06.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30927691
6.
Composition determination of semiconductor alloys towards atomic accuracy by HAADF-STEM.
Ultramicroscopy
; 200: 84-96, 2019 05.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-30844539
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