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1.
A Comparative Study on the Ferroelectric Performances in Atomic Layer Deposited Hf0.5Zr0.5O2 Thin Films Using Tetrakis(ethylmethylamino) and Tetrakis(dimethylamino) Precursors.
Nanoscale Res Lett
; 15(1): 72, 2020 Apr 07.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-32266598
2.
Dispersion in Ferroelectric Switching Performance of Polycrystalline Hf0.5Zr0.5O2 Thin Films.
ACS Appl Mater Interfaces
; 10(41): 35374-35384, 2018 Oct 17.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30247016
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