Detalles de la búsqueda
1.
Determining concentration depth profiles in fluorinated networks by means of electric force microscopy.
J Chem Phys
; 135(6): 064704, 2011 Aug 14.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21842946
2.
AFM based dielectric spectroscopy: extended frequency range through excitation of cantilever higher eigenmodes.
Ultramicroscopy
; 146: 55-61, 2014 Nov.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-25093635
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