Detalles de la búsqueda
1.
Correction of PZT scanner errors using a phase compensation method in white-light phase-shifting interferometry.
Appl Opt
; 60(30): 9311-9318, 2021 Oct 20.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34807066
2.
Critical dimension measurement of transparent film layers by multispectral imaging.
Opt Express
; 22(14): 17370-81, 2014 Jul 14.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-25090550
3.
Microsphere-assisted hyperspectral imaging: super-resolution, non-destructive metrology for semiconductor devices.
Light Sci Appl
; 13(1): 122, 2024 May 28.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38806499
4.
Snapshot Mueller spectropolarimeter imager.
Microsyst Nanoeng
; 9: 125, 2023.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-37814609
5.
Microsphere-assisted, nanospot, non-destructive metrology for semiconductor devices.
Light Sci Appl
; 11(1): 32, 2022 Feb 07.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35132060
Resultados
1 -
5
de 5
1
Próxima >
>>