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In Situ Radiation Hardness Study of Amorphous Zn-In-Sn-O Thin-Film Transistors with Structural Plasticity and Defect Tolerance.
ACS Appl Mater Interfaces
; 15(28): 33751-33762, 2023 Jul 19.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-37404033
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