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1.
A quantitative structural characterisation of active semiconducting materials (mSi; SiO2; Al2O3; TiO2) for use in printed electronics using a combination of Small Angle Light Scattering (SALS) and Ultra Small Angle X-ray Scattering (USAXS).
Nanotechnology
; 31(46): 465703, 2020 Nov 13.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-32756026
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