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1.
A new TCAD simulation method for direct CMOS electron detectors optimization.
Ultramicroscopy
; 243: 113628, 2023 Jan.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-36371857
2.
Vulnerability of CMOS image sensors in Megajoule Class Laser harsh environment.
Opt Express
; 20(18): 20028-42, 2012 Aug 27.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-23037056
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