Detalles de la búsqueda
1.
Wafer-Level Electrically Detected Magnetic Resonance: Magnetic Resonance in a Probing Station.
IEEE Trans Device Mater Reliab
; 182018.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30983909
2.
Apparatus for electrically detected electron nuclear double resonance in solid state electronic devices.
Rev Sci Instrum
; 90(12): 123111, 2019 Dec 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-31893768
3.
Slow- and rapid-scan frequency-swept electrically detected magnetic resonance of MOSFETs with a non-resonant microwave probe within a semiconductor wafer-probing station.
Rev Sci Instrum
; 90(1): 014708, 2019 Jan.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30709237
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